• 产品中心

    PRODUCT CENTER
    您的位置:首页 > 产品中心 > 半导体XRAY检测设备  >  半自动芯片XRAY检测设备  >  XG5010半导体XRAY检测设备

    半导体XRAY检测设备

    描述:半导体XRAY检测设备
    采用X光透射成像原理,X光管和成像系统在有进口和出口的柜式箱体内,内有用于装夹被检物料的模组组成的CNC系统。通过 CNC运动对被检物料进行自动测量。根据设定的判断标准自动判断OK或NG,并通过皮带输送、机械手进行分检,分别堆叠到位置。

    • 01/

      产品型号:XG5010
    • 02/

      厂商性质:生产厂家
    • 03/

      更新时间:2023-03-10
    • 04/

      访问量:5881
    详细内容/ Product Details
    品牌其他品牌产地类别国产
    应用领域环保,能源,电子/电池,汽车及零部件,综合

    半导体XRAY检测设备应用简介:


    XRAY检测设备采用X光透射原理,对被测物进行实时在线检测分析,广泛应用于电池行业,主要对产品内部缺陷进行实效分析。该装备配置一套自主研发的自动测量软件,能对被测对象进行自动测量和自动判断,并显示判断结果界面,使用户可以轻松挑出不良品。

    半导体XRAY检测设备产品特色:


    测量功能:直线距离、圆直径、同心圆、点与圆心距离等测量。

    CNC功能: 记忆编程,自动记录检测运动路径,定位准确,方便小批量重复检测。

    导航定位功能:超大导航窗口,鼠标点击被测图像任意区域,自动快速定位到目标检测点。

    图像处理功能:支持多种图像格式,对检测图像可进行实时处理和在线保存。


    image.png

    XRAY设备机械运动结构:

    ·载物台固定;

    ·X光管、图像增强器三轴运动(X、Y、Z)速度可控;

    ·运动装置配备滚珠丝杆,同步轮步进驱动,使运动更加平滑、稳定。


    检测流程:

    image.png

    技术参数:

    项目

    XG5010技术参数

    光管

    光管电压

    90KV

    光管电流

    200uA(软件限值89uA)

    聚焦尺寸

    5um

    冷却方式

    强制风冷

    成像系统

    视场

    2"/4"

    解析度

    75/110  lp/cm

    X-CCD分辨率

    1392*1040P

    几何放大倍率

    12-48X

    检测效率与精度

    重复测试精度

    60um

    软件检检测速度

    1.5/检测点(不含上下料和运动时间)

    载物台

    标准尺寸

    515mmX460mm

    有效检测区域

    450mmX410mm

    载重量

    5Kg

    安全标准

    国际辐射安全标准

    1μSV/hr

    其他参数

    计算机

    22"宽屏液晶显示器/触摸屏显示器/I5处理器/内存4G/硬盘500G

    尺寸/重量

    1136mm*1076mm*1730mm 约750Kg

    电源

    AC220V 10A

    温度和湿度

    25 ℃±3 RH50%±10%





    留言询价/ Message inquiry

    留言框

    • 产品:

    • 您的单位:

    • 您的姓名:

    • 联系电话:

    • 常用邮箱:

    • 省份:

    • 详细地址:

    • 补充说明:

    • 验证码:

      请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
    【网站地图】【sitemap】